掃描探針顯微鏡

儀器名稱：掃描探針顯微鏡

儀器型号：SPM-9700HT

生産廠家：日本島津有限公司

儀器簡介：掃描探針顯微鏡廣泛應用于材料科學、生命科學、醫療、制藥等領域。它利用細微的探針在樣品表面上一邊掃描，一邊将探針與樣品之間相互作用的某種物理量檢測出來，對表面進行高放大倍率觀察。本台儀器包含動态、接觸、相位、力調制、表面電勢模式。

主要技術指标：

1、測試區域；一般在10 μm以内

2、探針種類及其力常數：高分子材料樣品/軟硬适中樣品一般在0.1~10 N/m；玻璃、陶瓷、金屬硬樣品在10~42 N/m

送樣要求：

1、樣品狀态：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2、粉末樣品：常規測試項目樣品起伏一般不超過5 μm，特殊測試項目樣品起伏一般不超過1 μm，粉末樣品測試很難測到較好結果，請确保風險可接受；

3、薄膜或塊狀樣品尺寸要求：樣品大小最大為15×15 mm，厚度最厚8 mm；表面粗糙度不超過10um，一定要标明測試面。

4、測試KFM的材料需要将樣品制備在導電基底上，基底大小符合塊狀樣品的尺寸要求，KFM的樣品需要導電或至少為半導體；KFM測試需要樣品表面十分平整，樣品粗糙度最好在10-200 nm之間。

5、樣品上下表面整潔，沒有油漬灰塵等污染物；如樣品易受潮，要做防潮處理。