場發射透射電子顯微鏡

儀器名稱：場發射透射電子顯微鏡

儀器型号：JEM-2100F

生産廠家：日本電子株式會社

儀器簡介：場發射透射電子顯微鏡廣泛應用于材料科學、生命科學、醫療、制藥等領域。它不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時還可以得到納米尺度的顯微形貌、晶體結構、元素組成等信息。該儀器配備有X射線能譜儀（EDS）。

出廠主要技術指标：

1、加速電壓：80，100，120，160，200 KV；

2 、分辨率：點分辨率0.1nm；線分辨率0.14nm；STEM分辨率0.20nm；

3、放大倍數：50-1500K；

4、樣品最大傾角：±25°。

送樣要求：

1、樣品不得具有磁性、放射性、毒性和腐蝕性；

2 、樣品須具有一定的穩定性，須确保當受到電子束照射時不産生揮發性、腐蝕性物質；

3 、須提供樣品的名稱、分子結構和晶體結構等信息；

4 、送樣者需明确測試目的，即期望獲得什麼信息。