場發射掃描電子顯微鏡

儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡

儀器型号：JSM-7800F

生産廠家：日本電子株式會社

儀器簡介：場發射掃描電子顯微鏡主要用于材料表面微觀形貌的高分辨觀察以及微區成分的定性分析，适用于化學、化工、生物、材料、光電、藥學等方向的材料表面形貌和結構分析、微區成分的研究等。該設備配置有X射線能譜儀（EDS）。

出廠主要技術指标：

1、加速電壓：0.01～30KV連續可調；

2 、分辨率：0.8nm（15KV），1.2nm（1KV），3.0nm（0.1KV）；

3、放大倍數：25-500K；

送樣要求：

1、樣品為固體粉末或者塊狀樣品。

2、測試樣品應具有良好的導電性且無磁性; 導電性差的樣品測試前需進行噴金等處理，增加樣品的導電性。

3、粉末樣品測試前需要分散在導電基底上，不允許直接撒在電導膠上。

4、樣品表面清潔幹燥，不能有污染，熱穩定好。